rokko electronics co., ltd.


日本語

english

簡体中分

繁体中分

한국

Deutsch

Le francais

italiano

81-798-65-4508

ACCUEIL
MAPPA DEL SITOPOLITICA SULLA PRIVACY
Business Info Punti Forti Dell’Azienda Tecnologie Di Lavorazione Qualità-Ambiente
A Proposito Di Noi
Accesso
Contatti

WAFER ZAFFIRO


Modulo di Contatto
Contattateci in caso di domande tecniche o di elaborazione.
All'estero: Reparto vendite

TEL: 81-798-65-4508
FAX: 81-798-67-5038

Modulo di Contatto

accesso &calendario

Se avete domande sulle offerte di lavoro, cliccate sul pulsante qui sotto.



Opportunità di Lavoro



Dispositivi di Potenza

Dispositivi sensori

Rigenerazione dei monitor wafer

MEMS-Prototipo

SiC

Wafer Zaffiro

Processo Premium

Apparecchiatura di ispezione

Levigatura specializzata per Zaffiro & SiC

Prevenzione knife-edge

Molatura posteriore

Lucidatura

Processo di pulitura RCA per Wafers modellati

Fiducia

Qualità

Ambiente

Sicurezza

BCP

CSR


日本語

english

簡体中分

繁体中分

한국

deutsch

Le français

itariano

YOUTUBE

ACCESSO

blog

ISO9001&ISO14001

経営革新計画

阪神南リーディングテクノロジー

中小企業庁承認BCP

西宮市元気産業育成補助金

西宮市地球温暖化防止

円高エネルギー制約対策補助金

ものづくり中小企業試作開発支援

事業高度化計画

中小企業海外進出調査支援事業

ものづくり商業サービス確信補助金


サプライチェーン対策のための国内投資促進事業費補助金

ものづくり・商業・サービス生産性向上促進補助金

IT導入補助金

兵庫県立地促進事業確認

兵庫県サプライチェン対策事業

事業継続力強化計画


平成24年度西宮市優良事業所顕彰受賞


ROKKO ELECTRONICS Co., Ltd.

Zipp: 663-8105
8-5, Nakajima-cho, Nishinomiya-city, Hyogo, Japan



加盟団体

SIIQ

NEDIA

SiCアライアンス

SiC及び関連ワイドギャップ半導体研究会

パワーデバイス・イネーブリング協会

SSL GlobalSign Site Seal


Apertura della nuova fabbrica specializzata in nuovi materiali

Dal gennaio 2017


~Nuovi materiali: SiC, Zaffiro, LT (Tantalato di litio), ecc.


● Aumento della capacità per sostenere la lavorazione su larga scala

● Completamente separato dalla lavorazione dei wafer a silicio. Un solo passaggio lavorativo tra la accettazione e la spedizione

● LA riduzione del processo lavorativo comporta un taglio dei costi

● La produzione su larga scala è iniziata nel marzo 2017


Nuova fabbrica specializzata in Wafer di composti
Nuova fabbrica specializzata in Wafer di composti Piano 3: Pulitura/ sala di ispezione
 
Piano 3: Pulitura/ sala di ispezione
Piano 2: Sala di lucidatura
 
Piano 2: Sala di lucidatura
Piano 1: Sala di molatura
 
Piano 1: Sala di molatura

Punti di forza della nuova fabbrica

 

サファイア Raggiungimento di alti standard qualitativi di “pianura”, “rugosità superficiale” e di “strato alterato” mediante l’uso di una molatrice ad alta-rigidità
⇒Taglio dei costi di lavorazione
     
サファイア   Riduzione delle deformazioni dopo la molatura posteriore di assottigliamento
⇒In grado di processare sia la molatura che la lucidatura in un passaggio.
     
サファイア   Alti livelli di pulizia con l’introduzione di un macchinario specializzato nella pulitura zaffiro
(Riduzione delle contaminazioni e delle particelle)
     
サファイア   Possibile sviluppo dell’introduzione di una lavorazione a prevenzione knife-edge per zaffiro, già in atto per i wafer al silicio.

Lavorazione di assottigliamento per wafer SiC a pattern

 

Esempi di lavorazione per wafer SiC a pattern
Risultati nelle variazioni di sottigliezza dei wafer molati (wafer SiC 6 inch)

:umWAFER ZAFFIRO
※TV5: 1um≧ dopo la molatura

 

Paragone dei risultati di rugosità dopo la molatura (Wafer SiC 6 inch)

 

WAFER ZAFFIRO Le variazioni di spessore e la rugosità della superficie sono state migliorate dopo l’introduzione della molatrice ad alta rigidità.

※La rugosità post molatura è stata migliorata rispetto a quella ottenuta mediante una molatrice convenzionale.

事業案内
La Rokko è una delle poche aziende che dispone di un processo lavorativo integrati per i wafer zaffiro (molatura, lucidatura e pulitura RCA) contando unicamente sulle proprie tecnologie sviluppate nel tempo.

Alla Rokko abbiamo sviluppato tecniche per utilizzare l’esistente strumentazione dei semiconduttori e i macchinari per la lavorazione dei wafer a zaffiro. Se paragonato ai macchinari convenzionali disponibile nell’industria dello zaffiro, alla Rokko abbiamo un processo lavorativo integrato specializzato in velocità di produzione, basso tasso di deformazioni, alta rugosità, flessibilità e grandezza dei wafer.
WAFER ZAFFIROア
WAFER ZAFFIRO
● Analizzatore a totale riflessione a raggi x fluorescenti TREX610

Analizzatore a totale riflessione a raggi x fluorescenti TREX610
Elementi misurabili: 12 (S, Cl, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn)
● Macchinario Candela CS20 di ispezione della superficie del wafer

Macchinario Candela CS20 di ispezione della superficie del wafer
Dimensione del wafer: 3, 4, 5, 6 inch
Spessore: 300 – 1400 μm
 Processo automatico di pulitura scrub

Nuovo macchinario:
Dopo la lucidatura dei residui di sostanze alcaline possono finire per diventare macchie o fonti di particelle. La rimozione rapida di tali residui prima che vengano rivestiti da pellicole di ossido naturale è una delle tecniche chiave della lucidatura.
In origine, i wafer venivano puliti uno alla volta a mano dall’operatore. Recentemente abbiamo introdotto un sistema di pulitura automatico che elimina l’errore umano e le ripercussioni nella qualità per raggiungere degli standard qualitativi uniformi.

■Dimensione del wafer: 4, 5, 6, 8 inch
■Spessore: fino a 100 μm
■Wafer a pattern e SOI
Possono essere lavorati anche i wafer a vetro.
● Scrubber automatico

Scrubber automatico
Alte performance di pulizia.
● Scrubber automatico

Scrubber automatico
Dimensione del wafer: 4, 5, 6, 8 inch
Possono essere lavorati anche i wafer a zaffiro e SiC.
  Lavorazione di wafer zaffiro
  Lavorazione convenzionale Lavorazione presso la Rokko
  Lappatura del diamante Lucidatura CMP (in lotti) Molatura Lucidatura CMP
Costo di esercizio Alto
(Ruote metalliche + Diamanti)
Moderato
(Piattaforme + Slurry)
Moderato
(Ruote di diamante)
Moderato
(Piattaforme + Slurry)
Livello di tecnologia richiesto Alto Moderato Alto Alto
Costo dei macchinari Alto Moderato Alto Alto
Velocità di lavorazione Molto basso
Basso
Moderato Moderato
Osservazioni "Montatura a cera
Difficoltà nell’aggiustamento dei tavoli per il lapping, necessario un alto numero di lavorazioni."
"Montatura a cera
Difficoltà nell’aggiustamento dei tavoli per il lapping, necessario un alto numero di lavorazioni."
Adesione sottovuoto・Molatrice automatica specializzata nello zaffiro Lucidatura senza la cera
  Risultati delle particelle dopo la pulizia del wafer zaffiro
Particelle dopo la pulizia di wafer zaffiro da 150 mm
Pre pulituraPre pulitura
Lavaggio scrubLavaggio scrub
Pulitura RCAPulitura RCA
Pre pulitura   Lavaggio scrub   Pulitura RCA
1.Il lavaggio scrub è utile per rimuovere le particelle più grandi.
2.Le particelle e lo sporco vengono rimossi dopo la pulitura RCA.
3.10 pezzi≧0,3um
  Contaminazione dei metalli dopo la pulitura dei wafer zaffiro
Contaminazione dei metalli dopo la pulitura dei wafer zaffiro 150 mm
Misuratore TXRF
Misuratore TXRF
Misuratore TXRF
Risultati della misurazione mediante TXRF dopo il processo di pulitura

<5X1010atoms/cm2
  Misuratore TXRF
HomeA Proposito Di NoiBusiness InfoPunti Forti Dell’AziendaTecnologie Di LavorazioneQualità-AmbienteAccessoContattiPolitica sulla privacyDispositivi di PotenzaDispositivi sensoriRigenerazione dei monitor waferMEMS-PrototipoSiCWafer ZaffiroFiduciaQualitàAmbienteSicurezzaProcesso PremiumApparecchiatura di ispezioneLevigatura specializzata per Zaffiro & SiCPrevenzione knife-edge Molatura posteriorenLucidaturaProcesso di pulitura RCA per Wafers modellatiInformazioni lavoroMappa del sitoBCPCSR
日本語 english 簡体中文 繁体中文 한국 Deutsch Le français italiano
ROKKO Electronics co., ltd.
TEL : 81-798-65-4508
copy right 2010 ROKKO, All Rights Reserved.