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六甲电子株式会社

邮编: 663-8105
兵库县西宫市中岛町8-5



加盟団体

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NEDIA

SiCアライアンス

SiC及び関連ワイドギャップ半導体研究会

パワーデバイス・イネーブリング協会


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▼ 测试片的再生拋光



测试片的再生加工
这是一项再利用加工,将客户在晶圆生产过程中使用过的测试用假片(Dummy Wafer)重新生成新的同等质量的晶圆,并可多次使用 。
对应晶圆尺寸
3英寸
4英寸
5英寸
6英寸
除膜
测试片的再生加工"
化学溶液选择
测试片的再生加工  
验貨
测试片的再生加工
拋光
厚度・薄膜类型的分类
 
 
测试片的再生加工
出货
测试片的再生加工
检查
测试片的再生加工
清洗
 
颗粒・金属污染
厚度和外观
 
RCA清洗


新设备:电阻率・P/N・厚度分选仪
● 电阻率・P/N・厚度分选仪

电阻率・P/N・厚度分选仪
适用于4、5、6、8英寸
● 电阻率・P/N・厚度分选仪

电阻率・P/N・厚度分选仪
电阻率测量范围:1.0m~3.0MΩ・cm


■ 各加工中使用的机器介绍&说明
膜品种分类   除膜

膜品种分类
熟练工可一目了然地在多种多样的膜品种中进行分选。

除膜
通过湿蚀刻去除各种制膜。
厚度分类   批量粘贴

厚度分类
在除膜后把晶圆按照厚度分类。

批量粘贴
将晶圆平贴在平板上进行批量抛光。
批量式抛光机   批量剥离

批量式抛光机
进行批量式镜面抛光。

批量剥离
从平板上剥离抛光后的晶圆。
RCA清洗装置   颗粒计数器

RCA清洗装置
金属污染・颗粒的清除。

颗粒计数器
对抛光的晶圆片上的颗粒进行检查。
出货前的检查   全反射荧光X射线表面分析仪TREX610

出货前的检查
在出货之前将根据客户的要求进行检查后出货。

全反射荧光X射线表面分析仪TREX610
可以对晶圆表面的不纯物12种元素(S、Cl、K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn)进行分析。
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六甲电子株式会社
兵库县西宫市中岛町8-5 TEL : 0798-65-4508
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