作為擔負著半導體制造之一翼的企業,我們將面對持續的挑戰


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阪神南リーディングテクノロジー

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ものづくり・商業・サービス生産性向上促進補助金

IT導入補助金

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兵庫県サプライチェン対策事業

事業継続力強化計画


平成24年度西宮市優良事業所顕彰受賞


六甲電子株式會社

郵政編號: 663-8105
兵庫縣西宮市中島町8-5



加盟団体

SIIQ

NEDIA

SiCアライアンス

SiC及び関連ワイドギャップ半導体研究会

パワーデバイス・イネーブリング協会

SSL GlobalSign Site Seal


▼ 處理業務一覽表

在半導體制造過程中,本公司對正面・背面的高精度减薄和拋光加工,對客戶的各個工序使用的測試片的再生拋光加工,以及與此伴隨的化學處理和進行金屬汙染和顆粒管理的RCA清洗等。此外還進行MEMS晶圓等特殊晶圓的各種加工。

按材料分類的加工相容性圖表

新工場の強み  

○標記 = 可衡量的 每種材料*各加工細節

加工細節
材料
斜角加工
Temporary bonding
磨削
脫膜蝕刻
研磨
雙面拋光
CMP
RCA
claening
Reclaim
gas cluster beam
框架安裝
N-dope SiC
Si面
C面
半絕緣碳化矽
Si面
C面
多晶碳化矽
LiTaO 3
LiNbO3
GaN
Ga面
N面
藍寶石
Ga2O3
AlN
石英
GaN on Si
GaN on Sap
GaN on SiC
SOI
氧化膜
玻璃

按材質 檢定對應表

新工場の強み  

○標記 = 可衡量的 每種材料*每次檢查的內容

材料
顆粒
污染
平整度
厚度測量
ICP-MS
TXRF
Zygo
TTV
SBIR
SFQR
BOW
Warp
SORI
接觸式
非接觸式
比電阻
P/N
MEM
SICA
N-dope SiC
Si面
C面
半絕緣碳化矽
Si面
C面
碳化矽外延片
多晶碳化矽
LiTaO 3
LiNbO3
GaN
Ga面
N面
藍寶石
C面
R面
Ga2O3
AlN
Al面
N面
石英
GaN on Si
GaN on Sap
GaN on SiC
SOI
氧化膜
玻璃
■ 主要加工内容

 
■兼容4-8英寸
■ 防刀刃处理
■ 台阶处理
■ 边缘轮廓测量

■可提供4英寸、6英寸和8英寸晶圆的胶带键合工艺。
■可提供6英寸和8英寸晶圆的树脂键合工艺。树脂键合工艺也适用于带有光刻胶的晶圆。
■可提供支撑基板。
■可提供台阶加工服务。


■4-8英寸
■帶Bump晶圓
■感壓膜・UV膜
■減薄後在晶圓框架上貼片

 
       
■4-8英寸
■批量式・單片式拋光裝置
■單・雙鏡面加工
■GWSS
■适用于4-8英寸屏幕。
■ 可使用化学方法去除薄膜。
■ 可提供污染检测。

■兼容 4 英寸、6 英寸和 8 英寸屏幕。
■ 高平整度 <0.5μm


 
       
■4-6英寸
■除膜
■RCA清洗
■顆粒・金屬汙染・厚度・外觀檢查

■4-8英寸
■減薄&拋光
■SOI層厚度控制
■GWSS晶圓
■Cavity構造晶圓・
矽穿孔晶圓
■半切穿式切割

■浸涂式,兼容4-8英寸尺寸
■片状,兼容4-8英寸尺寸
■兼容多种复合晶圆

 
       
■4.6英寸兼容
■ 氧化膜/LT/LN兼容
■ 纳米级平坦化

■4.6英寸兼容
■ 氧化膜/LT/LN兼容
■ 纳米级平坦化

■6.8英寸兼容
■ 树脂去除后,将框架安装到切割环上


 
         
■兼容4-8英寸晶圆
■ 背面减薄
■ 硅侧和碳侧外延再生工艺
■ 薄膜去除蚀刻
■ 晶圆制造
■ 各种测量服务

■兼容4-8英寸晶圆
■ 提供各种晶圆加工服务
■ 包括倒角、研磨、抛光、清洗、支撑、蚀刻等
■ 提供各种测量服务


 
 
         
■兼容4-8英寸
■ 颗粒测量
■ 污染测量
■ 平面度测量
■ 厚度测量
■ 电阻率测量
■ P/N测量

■4-8インチ対応
■SICA88
■MEM
■TROPEL
■ZYGO
■TREX
■ICP-MS

 
 
 

■ 各加工中使用的機器介紹&說明
● UV照射器機

UV照射器機
UV膜剝離器(包括模切環)
● 全自動減薄機

全自動減薄機
可從一片晶圓開始處理。
 


● 2流體清洗機

2流體清洗機
8英吋以下的圓晶,用純水和空氣兩種流體進行清洗・漂洗・乾燥。

8吋晶圓也可以再生加工

測試片的再生加工

這是一項再利用加工,將客戶在晶圓生產過程中使用過的測試片/檔片(Dummy Wafer)重新加工成跟新片同等質量的晶圓,並可多次使用。
對應晶圓尺寸
3英寸
4英寸
5英寸
6英寸
8英寸
除膜
測試片的再生加工
選擇化學藥水
測試片的再生加工  
驗貨
測試片的再生加工
拋光
厚度・薄膜類型的分類
 
 
測試片的再生加工
出貨
測試片的再生加工
檢查
測試片的再生加工
清洗
 
顆粒・金屬汙染・厚度和外觀
 
RCA清洗



新設備:電阻率・P/N・厚度分選儀
● 测试片的再生加工

测试片的再生加工
對應於4、5、6、8英寸
● 测试片的再生加工

测试片的再生加工
電阻率測量範圍:1.0m~3.0MΩ・cm


■ 各加工中使用的機器介紹&說明
● 膜品種分類

膜品種分類
熟練工可一目了然地在多種多樣的膜品種中進行分選。
● 除膜

除膜
通過濕蝕刻去除各種制膜。
● 厚度分類

厚度分類
在除膜後把晶圓按照厚度分類。
● 批量式拋光機

批量式拋光機
進行批量式鏡面拋光。
● RCA清洗裝置

RCA清洗裝置
金屬汙染・顆粒的清除。
● 粒子計數器

パーティクルカウンター
我們檢查拋光晶圓中的顆粒。
● 平面度測量裝置

出荷前検査
我們將測量拋光晶圓的彎曲度、翹曲度和總厚度變化。
● 出貨前的檢查

出貨前的檢查
在出貨之前將根據客戶的要求進行檢查後出貨。
● 全內反射X射線螢光分析儀 【TXRF】

全反射蛍光X線分析装置 【TXRF】
※提供合約測試服務。
金屬污染和全表面掃描測量可行
[S Cl K Ca Ti Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn]
● 電感耦合等離子體質譜儀
【ICP-MS】

誘導結合プラズマ質量分析装置 【ICP-MS】
※提供合約測試服務。
可以測量金屬污染和各種金屬。
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